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電壓擊穿測試儀在測試中會受到哪些因素的影響呢

更新時(shí)間:2022-11-16 14:09:01      瀏覽次數(shù):13888

  電壓擊穿測試儀的測試過程可由單片機(jī)控制。測試結(jié)果顯示在液晶屏上。同時(shí),數(shù)據(jù)可以通過通信端口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)。計(jì)算機(jī)控制測試過程并處理測試數(shù)據(jù)。單片機(jī)控制具有明顯的優(yōu)勢。由于不使用電腦,設(shè)備的安裝和使用都很簡單,可以通過連接電源線進(jìn)行測試。
  擊穿電壓是導(dǎo)致電介質(zhì)擊穿的電壓。當(dāng)電場足夠強(qiáng)時(shí),電介質(zhì)將失去其介電性質(zhì)而成為導(dǎo)體,稱為介質(zhì)擊穿,相應(yīng)的電壓稱為擊穿電壓。介質(zhì)擊穿的電場強(qiáng)度稱為擊穿場強(qiáng)。
  不同電介質(zhì)在同一溫度下的擊穿場強(qiáng)不同。當(dāng)電介質(zhì)和電容器兩個(gè)極板之間的距離d固定時(shí),u1-u2=ed,擊穿電壓由擊穿場強(qiáng)決定。擊穿場強(qiáng)也稱為介電強(qiáng)度。介電強(qiáng)度是提高電容器耐壓能力的關(guān)鍵。
  電壓擊穿測試儀在測試中會受到下面這幾種因素的影響:
  1、頻率
  在擊穿區(qū),如果頻率的變化不改變電場的均勻性,則擊穿電壓幾乎與頻率無關(guān)。在熱擊穿區(qū),如果頻率和不變,擊穿電壓與頻率的平方根成反比。例如,具有厚度的玻璃在工頻下的擊穿電壓為(RMS),而在高頻下的擊穿電壓僅為(RMS)。由于頻率的增加和介質(zhì)損耗的增加,導(dǎo)致熱擊穿過程升溫,促進(jìn)了熱擊穿過程的發(fā)展。
  2、溫度
  在一定溫度范圍內(nèi),固體介質(zhì)的擊穿特性屬于電擊穿,擊穿場強(qiáng)很高,幾乎與溫度無關(guān)。溫度越高,熱擊穿電壓越低。如果周圍介質(zhì)的溫度也很高,在工作電壓下就有熱擊穿的危險(xiǎn)。不同的固體電介質(zhì)具有不同的耐熱性和耐熱等級,因此從電擊穿到熱擊穿的臨界溫度一般是不同的。
  3、受潮
  潤濕對固體介質(zhì)擊穿電壓的影響與材料的性能有關(guān)。對于不易吸濕的材料,如聚乙烯、聚四氟乙烯等中性介質(zhì),受潮后擊穿電壓只下降一半左右。對于棉紗、紙張等易吸濕的極性介質(zhì),由于導(dǎo)電性和介電損耗大大增加,受潮后的擊穿電壓可能只有干燥時(shí)的百分之幾或更低。因此,高壓絕緣結(jié)構(gòu)在制造中應(yīng)注意防潮,在操作中應(yīng)注意防潮,并定期檢查潮氣。
  好了,以上便是關(guān)于電壓擊穿測試儀的相關(guān)內(nèi)容介紹了。

電壓擊穿試驗(yàn)儀

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